微区探头Ava-Probe-M

Ava-Probe-M是专门针对微小区域（≤1mm）的反射率测试设计的，适用于表面平整，形状规则的材料。探头配合不同芯径的光纤，可实现不同区域大小反射光谱的测量。使用过程中，可通过观察窗，观察确认样品的测量。

微区光谱测量结合显微系统与光谱仪，能够在微米级尺度上获取样品的光学特性。其典型应用包括：

1.    工业材料检测与器件性能优化

·  纳米材料表征：如金属纳米阵列的表面等离激元共振吸收分析，调控光电器件的响应波长

·  半导体材料研究：检测晶圆表面微区反射光谱，评估材料能带结构及杂质分布，提升器件性能。识别材料表面缺陷，测量镀膜材料的反射率、厚度均匀性及缺陷分布，优化薄膜工艺

·  光电探测器优化：检测表面等离激元器件的共振吸收光谱，调控纳米结构尺寸以增强光响应性能；高Q值光纤谐振腔的反射谱测量

2. 环境与农业监测

·  土壤污染评估：通过测量作物叶片（如水稻）光谱，分析土壤重金属（如Cd、As）含量，支持农田环境治理

·  土壤有机质分析：通过测量土壤光谱，分析预测干旱区荒地有机质含量

·  作物健康监测：通过植物叶片光谱变化诊断重金属胁迫或营养缺失，辅助精准农业

3. 生物医学与生命科学

·  细胞及组织分析：在微米尺度下检测生物样本（如肿瘤组织）的反射光谱差异，辅助病理研究

·  药物载体研究：分析药物缓释材料的微区光学特性，优化载药效率与释放行为