多角度光谱测量系统

Avantes多角度光谱测试系统，波长范围为380-2500nm（取决于光栅）。可用于不同照明角度和不同探测角度的透反射光谱以及辐照度光谱。测试角度范围：-87°-87°（样品平面法线方向为0°）；

配合自动化测量软件，可实现连续角度自动光谱测量及数据保存，无需手动切换。如需颜色测量、膜厚计算等附加功能，可按照功能需求进行匹配定制。

原理说明：

（1）反射率：使用反射光路：平行光照射样品，经样品反射，信号由探测镜头采集。

根据待测样品表面的不同反射类型，配合特定参考板，测试参考光谱强度与反射光谱强度，计算得到相对反射率数据。

（2）透过率：使用透射光路：平行光照射样品，光信号透过样品，由探测镜头采集。

测试参考光谱强度与透射光谱强度，计算得到相对透射率数据。

（3）辐照度：光谱仪经辐照度校准，可测量不同角度下的辐射源辐射强度

自动化测量软件：

（1）实现全自动多角度透反射率光谱测量、全自动多角度辐照度测量，配备激光测距仪精准定位。

（2）测量速度快

（3）软件界面简洁易操作，可自动保存数据，多维光谱图显示

· 测量模式设置：

·多维光谱-3d模式：

·软件测量界面：

典型应用领域：

爱万提斯多角度光谱测量系统，可以对常见的光学元件进行多角度光谱特性测试，如手机面板、交通反光板、透镜滤光片等。